激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī)的主要特點(diǎn)

更新時(shí)間：2023-12-23

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激光二極管有一大部分的應(yīng)用于光通訊與電信工業(yè)的范疇內(nèi)，如光收發(fā)器(Transceiver) 等產(chǎn)品在組裝前若能了解每顆激光二極管的特性或與直接測(cè)試光纖的耦合后的特性，能減低產(chǎn)品的失敗率。Chroma 58620測(cè)試系統(tǒng)中含有自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)(Auto alignment)，可搭配不同種類的光纖與Focuser進(jìn)行激光光大功率點(diǎn)耦合并測(cè)試，當(dāng)激光光達(dá)一定程度的耦合效率時(shí)，系統(tǒng)搭配光譜分析儀(OSA) 進(jìn)行分析了解激光二極管共振膜態(tài)，主次模比(Side Mode Suppression Ration) 以及波長(zhǎng)分析(Peek wavelength) 等；此外，利用光學(xué)輔助定位的原理(AOI) 使得Focuser快速達(dá)到激光發(fā)光區(qū)(Emission Region) 并進(jìn)行搜尋大發(fā)射功率點(diǎn)可加速測(cè)試，大幅減低光纖耦合調(diào)校時(shí)間與測(cè)試人力。

Chroma 58620藉由多年在半導(dǎo)體IC測(cè)試的經(jīng)驗(yàn)與技術(shù)，發(fā)展共享載具與更換治具等概念并應(yīng)用于激光二極管產(chǎn)業(yè)。傳統(tǒng)在激光二極管前段測(cè)試過(guò)程中，需經(jīng)過(guò)多次的老化測(cè)試(Burn-In) 與特性檢測(cè)制程(Characterization)，在更換載具的過(guò)程中常會(huì)損壞待測(cè)物減低良率，共享載具的好處可讓研發(fā)或操作員只需要在D一次將激光二極管放置于載具中，即可在不接觸待測(cè)物之下完成所有必要的檢測(cè)，此設(shè)計(jì)亦可搭配Chroma 58601老化測(cè)試機(jī)。然而，激光二極管的形式(Form Factor) 于各家設(shè)計(jì)皆有所不同，而58620更換治具(Change Kit) 的概念可符合世界上大多激光二極管的封裝形式進(jìn)行修改后即馬上可進(jìn)行量測(cè)，目前可使用的形式為Chip on carrier， Chip on sub-mount，Laser-bar等。

主要特色：

全自動(dòng)化檢測(cè)邊射型激光半導(dǎo)體芯片

高精密及高容量載具設(shè)計(jì)

自動(dòng)光纖耦合測(cè)試對(duì)位設(shè)計(jì)(Auto-alignment)

AOI輔助定位，加速測(cè)試時(shí)間

共用載具設(shè)計(jì)可搭配燒機(jī)測(cè)試

高精密TEC溫度控制，穩(wěn)定度達(dá)0.01℃

搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter

軟體分析激光特性: Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等